無(wú)錫冠亞射流式高低溫沖擊測(cè)試機(jī)

給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環(huán)境溫度。

是對(duì)產(chǎn)品電性能測(cè)試、失效分析、可靠性評(píng)估*的儀器設(shè)備。

廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體企業(yè)、航空航天、光通訊、高校、研究所等領(lǐng)域。

IC芯片溫度沖擊測(cè)試機(jī)清潔保養(yǎng)

IC芯片溫度沖擊測(cè)試機(jī)清潔保養(yǎng)

　　IC芯片溫度沖擊測(cè)試機(jī)給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環(huán)境溫度,是對(duì)產(chǎn)品電性能測(cè)試、失效分析、可靠性評(píng)估*的儀器設(shè)備。IC芯片溫度沖擊測(cè)試機(jī)在運(yùn)行的時(shí)候需要注意其清潔保養(yǎng)工作。

　　灰塵粘糊冷凝器會(huì)使壓縮機(jī)高壓開關(guān)跳脫而產(chǎn)生誤報(bào)警，冷凝器應(yīng)定期每月保養(yǎng),利用真空吸塵器將冷凝器散熱網(wǎng)片上附著的其塵吸除或開機(jī)后使用質(zhì)硬的毛刷刷之或用高壓氣嘴吹干凈灰塵。IC芯片溫度沖擊測(cè)試機(jī)開關(guān)門或從爐內(nèi)取測(cè)試物時(shí)，不得讓物品與門上膠邊接觸，以防膠邊被破壞和縮短壽命.

　　IC芯片溫度沖擊測(cè)試機(jī)機(jī)身周圍和底部的地面要隨時(shí)保持清潔，以免大量灰塵吸入機(jī)組內(nèi)產(chǎn)生意外事故和降低性能.冷凍系統(tǒng)是本機(jī)的核心，請(qǐng)半年巡檢一次所有銅管有無(wú)泄漏雪種情況，各嗽叭接頭、焊接口，如有油漬外泄，請(qǐng)通知本公司.

　　IC芯片溫度沖擊測(cè)試機(jī)配電室內(nèi)每年至少清潔檢修一次以上，接點(diǎn)的松動(dòng)會(huì)使整個(gè)設(shè)備處于危險(xiǎn)工作狀態(tài)，輕則燒壞組件，重則發(fā)生火災(zāi)、報(bào)警、人身傷害非常危險(xiǎn). 清潔時(shí)清利用吸塵器將室內(nèi)灰塵吸除即可。配電箱內(nèi)的兩個(gè)超溫保護(hù)器設(shè)定值請(qǐng)不要隨便調(diào)試，出廠時(shí)已調(diào)好，此保護(hù)開關(guān)是保護(hù)加熱管空焚和警報(bào)之用 。

　　當(dāng)IC芯片溫度沖擊測(cè)試機(jī)試驗(yàn)產(chǎn)品時(shí)間到達(dá)后取產(chǎn)品時(shí)，必須在關(guān)機(jī)狀態(tài)下且工作人員一定要戴好干燥、防電、耐溫手套進(jìn)行取放產(chǎn)品。在操作前應(yīng)先將內(nèi)部雜質(zhì)(物) 清除，箱體外部每年必須清洗一次以上, 清洗時(shí)用肥皂水擦拭即可。

無(wú)錫冠亞IC芯片溫度沖擊測(cè)試機(jī)廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體企業(yè)、航空航天、光通訊、高校、研究所等領(lǐng)域。